Honlapunk alsó tartalma 1360*768 pixel
képernyőfelbontásnál kisebb érték esetén
a görgetősáv használatával érhető el.

Lapszámok

Kérjük válasszon
2019

Zuna László

Napelemes rendszerek termográfiája

Zuna László

termékmenedzser
Testo (Magyarország) Kereskedelmi Kft.

Hőkamera használatával lehetőségünk van gyorsan és egyszerűen felmérni olyan működési hibákat, amelyeket más mérési eljárásokkal csak nehezen, vagy egyáltalán nem tudnánk. Akár időszakos karbantartás, akár a kiépítés után a rendszer hatékonyságát ellenőrző mérés, akár működési hibák okának detektálása a cél, a professzionális hőkamerákkal végzett mérések biztos segítséget nyújtanak.

Ilyen működési hiba lehet például a Hot-Spot vagy magyarul melegpont jelenség. Ez a jelenség sérült cellára utal, amely a szomszédos cellák által termelt egyenáramot hővé alakítja, így csökkentve a rendszer teljesítményét. E hibajelenségek következménye szélsőséges esetekben akár tűzveszély is lehet.

A tapasztalható, közel +15 °C-os hőmérsékletkülönbség okán a hibás cella hőkamerás vizsgálattal könnyedén beazonosítható.

Hatásfok csökkenést okoz továbbá az is, ha a cella részben árnyékolt, vagy a felülete szennyezett. Bár az újgenerációs panelek sok esetben rendelkeznek olyan funkciókkal, amelyek segítenek kiküszöbölni a jelentős hatásfokcsökkenést, de ezeknek a jelenségeknek a felmérésénél is segítséget nyújt a hőkamerás mérés.

Egy hagyományos napelem panelnél ilyen esetben a beárnyékolt cella polaritást vált, terhelésként viselkedik. Mindez az összes sorba kapcsolt cellára hatással van és az elektromos energiát hővé alakítja át.

E probléma beazonosításában segít, ha időről időre készítünk hőképet a panelekről, amit későbbiekben referenciamérésként tudunk majd kezelni.

A manapság forgalmazott panelekhez a gyártók bypass diódák beépítését javasolják a rendszerekbe, amelyekből hagyományosan léteznek sor és modul bypass kivitelűek. E modulok célja az, hogy áthidalják a hibás sztringet (sort), valamint hogy megakadályozzák a visszáramot a modulba, illetve a sor/modul túltöltődését. Azonban ezen bypass diódák hibás működése esetén leállhat a sor vagy modul termelése, ami túlmelegedést okozhat mind a sérült, mind a sértetlen celláknál is, így további meghibásodásokhoz járulhat hozzá.

Minél melegebb egy napelem, annál kisebb a hatásfok. Ezt a hatásfokcsökkenést és a cella meghibásodását is segíti kiküszöbölni a hőkamerás mérés, amely láthatóvá teszi a több modulra/sorra kiterjedő hőmérsékletkülönbséget.

 

A cikk teljes terjedelmében lapunk 2019/3-as számának nyomtatott változatában található meg, illetve pdf-formátumban is letölthető (előfizetőknek korlátlanul, regisztráltaknak viszont havonta csak egy alkalommal!).

A teljes cikk letöltéséhez jelentkezzen be!